NF C96-022-5-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温度湿度偏差寿命试验

作者:标准资料网时间:2024-05-03 09:28:11 浏览:8503 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part5:steady-statetemperaturehumiditybiaslifetest.
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温度湿度偏差寿命试验
【标准号】:NFC96-022-5-2003
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2003-06-01
【实施或试行日期】:2003-06-05
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体器件;温度试验;元部件;水分检验;电子设备及元件;气候;电子工程;电气工程;试验;机械试验;电学测量;气候试验;集成电路;半导体;寿命;环境试验
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:10P;A4
【正文语种】:其他

下载地址: 点击此处下载

返回跳至顶部

上一篇: NF C93-850-2-30-2003 光学纤维电缆.第2-30部分:室内光缆.光纤带状电缆系列规范
下一篇: NF C53-700-1/A1-2003 高压直流电(HVDC)输送用闸流晶体管的试验.第1部分:电气试验

基本信息

标准名称：	电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温
英文名称：	Environmental testing for electric and electronic and electronic products--Part 2:Test methods--Tests A:Cold
中标分类：	电工 >> 电工综合 >> 基础标准与通用方法
ICS分类：	试验 >> 环境试验
替代情况：	替代GB/T 2423.1-1989;被GB/T 2423.1-2008代替
发布部门：	中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布日期：	2001-07-12
实施日期：	2001-12-01
首发日期：	1981-08-10
作废日期：	2009-10-01
主管部门：	中国电器工业协会
提出单位：	国家机械工业局
归口单位：	全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会
起草单位：	广州电器科学研究所
起草人：	赵世杰、陈洁、张永彬
出版社：	中国标准出版社
出版日期：	2001-11-01
页数：	平装16开，页数：23，字数：40千字
书号：	155066.1-18041

适用范围

本标准所涉及的低温试验适用于非散热和散热两类试验样品。对于非散热试验样品，试验Aa和Ab不违背早期发行的标准。本标准仅限于用来考核或确定电工、电子产品(包括件、设备及其他产品)在低温环境条件下贮存和(或)使用的适应性。这一低温试验不能用来评价试验样品对温度变化的耐抗性和在温度变化期间的工作能力，在这种情况下，应当采用试验N:温度变化试验方法。低温试验方法分为以下三类:非散热试验样品低温试验:——试验Aa:温度突变——试验Ab:温度渐变散热试验样品低温试验:——试验Ad:温度渐变本试验方法通常用于条件试验期间能达到温度稳定的试验样品。试验持续时间是从试验样品温度达到稳定时开始计算的。在特殊情况下，如果条件试验期间试验样品达不到温度稳定，则试验持续时间从试验箱(室)达到规定试验温度时开始计算。相关规范应规定:a)试验箱(室)内温度变化速率;b)试验样品放入试验箱(室)的时间;c)试验样品在试验条件下暴露试验开始的时间;d)试验样品通电或加负载的时间。在这些条件下，相关规范的制定者可根据GB/T2424.1-1989导则选定以上4个参数(以上条件下的修订正在考虑之中)。

前言

没有内容

引用标准

没有内容

所属分类：电工电工综合基础标准与通用方法试验环境试验